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FA165SEM-ION幸运半微量分析天平

FA165SEM-ION幸运半微量分析天平

产品简介:FA165SEM-ION幸运半微量分析天平 半微量分析天平半微量天平精度达 0.01 毫克。该系列配备新型高度集成式电磁传感器,其所有型号都可自动内部校准,具有高精度和高可重复性的特点

产品分类:电子分析天平

更新时间:2021-04-22

浏览次数:32

详细说明:

产地类别国产仪器量程100-200g
仪器精度十万分之一克价格区间面议
仪器种类超微量天平应用领域医疗卫生,环保,食品,生物产业,农业

FA165SEM-ION幸运半微量分析天平FA(SEM)系列  半微量分析天平半微量天平精度达 0.01 毫克。该系列配备新型高度集成式电磁传感器,其所有型号都可自动内部校准,具有高精度和
高可重复性的特点。所有 FA-SEM  型天平均配有一个很大的图形显示屏,便于用户操作。新型Semi Micro 天平拥有一贯的
优异性价比。
FA165SEM-ION幸运半微量分析天平功能
电磁力恢复称重系统
高度集成的称重传感器
配方数据库:可储存 99 种配方,每种配方多含 20 种成分
大屏图形显示屏,可以轻松、高效地进行操作
支持多语言:英语、德语、法语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语
以 GLP/ISO 格式记录保存重量值, 含日期、时间和序列号
挡风大玻璃罩,带 3 个滑动门,方便操作待称重物品
键盘塑料保护
技术数据
量程漂移(+10 … +30°C): +/– 2ppm/°C
外形尺寸: 长×宽×高(毫米):345×215×345
称重室尺寸: 长×宽×高(毫米): 152×160×225
外部电子盒尺寸: 长×宽×高(毫米):175×105×50(毫米),重量 500 克
电源 110-230 Vac, 50/60 Hz: 输 出 12V 1A
 净重:5.8 千克

FASEM Series  半微量分析天平技术参数

产品型号      

FA1265SEM

FA2285SEM

FA22105SEM

FA165SEM-ION

FA205SEM-ION

大称量     

 62/120

82/220

102/220

162

202

价格         

 

 

 

 

   

精度     

0.01mg/0.1mg

0.01mg

0.01mg

小称重   

60mg

100mg

100mg

100mg

稳定时间   

≤6s

显示方式

LCDwhite back light with black font)白色背光黑色字体

秤盘尺寸  

Φ80mm

使用温度 

5-35℃ 20-80%Humidity

重复性    

0.03 / 0.1mg

0.05 / 0.1mg

0.05mg

0.05mg

0.05mg

线性    

± 0.05 / ± 0.2mg

± 0.05/ ± 0.2mg

± 0.1mg

± 0.1mg

± 0.1mg

防风罩尺寸  

152mm×160mm×225mm

校准砝码   

Internal Calibration 全自动内部校准

选购件     

Printer打印机

外形尺寸   

345×215×345mm

毛净重    

8.25/5.8 kg

8.3/5.85 kg

静电消除器   

Option  选配

Standard 标配

系统语言   

ItalianEnglishPortuguesDeutschFranceEspanol

包装尺寸     

510x400x620mm

电源规格   

110-230V 50/60Hz  Out DC 12V 1A

 


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